扫描式电子显微镜（S-3400NII）

主要技术指标

分辨率：≤3.5nm（30kv,高真空模式) 4.0nm（30kv,低真空模式） 10nm （ 3kv,高真空模式）加速电压：≤0.5kv — 30kv放大倍数：≤6×（或20×）— ≥300，000×最大样品尺寸：直径≥200nm，高度≥40nm样品台：X≥50mm，Y≥40mm，Z≥40mm，R：360°，T:-10°— 60°电子枪偏压：可变，与加速电压联动并修正电磁透镜：自动聚焦、消像散、调节放大倍数等物镜光栏：多级，位置可以微调图像储存格式：TIFF,BMP,JPEG等检测器：二次电子检测器；高灵敏背散射电子探测器自动真空系统：具有高真空和低真空模式，采用涡轮分子泵和机械泵系统

主要功能/应用范围

用于各种材料样品的形貌组织观察、断口分析、结构研究及样品的成分分析。该机为扫描工作方式，具有计算机自动控制、图像采集、数据处理和图像处理功能、自动调校自检自验功能。广泛应用于金属材料、半导体、陶瓷、动植物、医学、化工等领域。

服务内容

各种材料样品的形貌组织观察、断口分析、结构研究及样品的成分分析

服务的典型成果

无

对外开放共享规定

无

参考收费标准

无

仪器联系人：

陈志勇

联系电话：

0316-2080713

电子邮箱：

传　　真：