X射线荧光光谱仪（ARL PERFORM’X4200 ）

主要技术指标

1、测量方式：波长色散顺序扫描式2、分析元素范围：O-U3、含量范围：ppm到100%

主要功能/应用范围

用于金属材料、非金属材料、块状样品、玻璃熔片样品、粉末压片样品、及钻屑等少量粉末样品中的主量，次量和痕量成分的定性、定量及无标样定量分析，广泛应用于地质、化学工业、材料、石油和煤炭、陶瓷和水泥、钢铁、有色金属、环境、高分子、农业和食品、药物等领域。

服务内容

用于金属材料、非金属材料、块状样品、玻璃熔片样品、粉末压片样品、及钻屑等少量粉末样品中的主量，次量和痕量成分的定性、定量及无标样定量分析，

服务的典型成果

在本院服务

对外开放共享规定

广泛应用于地质、化学工业、材料、石油和煤炭、陶瓷和水泥、钢铁、有色金属、环境、高分子、农业和食品、药物等领域。

参考收费标准

1000元/样品。

仪器联系人：

李彦恒

联系电话：

0310-8578540

电子邮箱：

pingtaiban@hebeu.edu.cn

传　　真：