台式扫描电子显微镜（Phenom ProX）
时间：2018-01-15 10:40:18来源：网络
| 仪器名称 |
台式扫描电子显微镜
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仪器型号 |
Phenom ProX
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| 所属单位 |
中国科学院地球环境研究所
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所属区域中心 |
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| 制造商名称 |
Phenom Word-BV
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国别 |
荷兰
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| 购置时间 |
2013/12/18
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放置地点 |
中科院地球环境研究所822室
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| 预约审核人 |
宋友桂
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操作人员 |
宋友桂
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| 仪器工作状态 |
正常
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预约形式 |
必须预约
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| 预约类型 |
时间预约
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| 仪器大类 |
室内分析测试设备
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仪器中类 |
光谱仪器
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仪器小类 |
光谱成像仪器
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| 仪器主要功能及描述 |
Phenom ProX台式扫描电子显微镜内置集成彩色光学显微镜，光学放大20-120倍，可明、暗场观察，电子放大100000倍，分辨率优于17nm；电压5KV-15KV连续可调，可同时扫描样品表面、断面、内部图像；其采用四分割背散射电子探测器，提供成分和形貌两种成像模式，在沉积物研究中可轻松快速给出被测样品的形貌和成分分布；15秒钟抽真空时间，成像速度快；CeB6灯丝确保获得的图像分辨率高达2048×2048像素；扫描电镜集成的EDS操作界面，通过点击样品位置即可完成元素的定性半定量分析。
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| 备注 |
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仪器收费信息
| 序号 |
样品分类 |
分析项目 |
前处理标准名称 |
分析项目标准名称 |
对外服务价格 |
| 1 |
SEM |
断面微观形貌观察 |
电镜样品制备标准 |
电镜样品制备标准 |
400 |
| 2 |
SEM |
元素点、面分析 |
电镜样品制备标准 |
电镜样品制备标准 |
30 |
| 3 |
SEM |
微观形貌观察 |
电镜样品制备标准 |
电镜样品制备标准 |
400 |
