纳米位移控制成像系统(DQ-NeaSNOM)（NeaSNOM）
时间：2018-01-16 11:46:57来源：网络
| 仪器名称 |
纳米位移控制成像系统(DQ-NeaSNOM)
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仪器型号 |
NeaSNOM
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| 所属单位 |
国家纳米科学中心
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所属区域中心 |
北京物质和纳米科学大型仪器区域中心
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| 制造商名称 |
Neaspec GmbH
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国别 |
德国
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| 购置时间 |
2014/12/31
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放置地点 |
南楼118室
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| 预约审核人 |
胡德波
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操作人员 |
胡德波
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| 仪器工作状态 |
正常
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预约形式 |
必须预约
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| 预约类型 |
时间预约
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| 仪器大类 |
室内分析测试设备
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仪器中类 |
光谱仪器
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仪器小类 |
激光光谱仪器
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| 仪器主要功能及描述 |
散射型扫描近场光学显微镜（s-SNOM）将光学天线技术与扫描探针技术有机结合，利用镀铂AFM探针的天线效应在探针尖端附近产生高度局域化的强光场。由于该局域强场与样品发生近场相互作用，远场测量得到的散射信号就反应了样品该区域的光学特性。测量时AFM探针工作在轻敲模式，随着针尖的上下振动，样品被测区域中信号的强度也发生周期性变化，因此对于远场散射信号也有一个周期性调制，而针尖和样品其他区域的散射光则几乎不被调制，因此很容易利用锁相放大技术将这些背景信号从探测信号中滤除。通过探针扫描样品表面，可以同时得到样品表面形貌图像和近场光学图像。其成像分辨率仅由针尖的几何尺寸决定，典型值为20 nm.
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| 备注 |
此仪器必须与波长可调谐激光器和光谱测量系统（NIM）配套使用，预约时两台仪器必须同时预约。散射型扫描近场光学显微镜（s-SNOM）是进行高空间分辨率纳米光学表征的专用仪器，不接受常规AFM测试的预约请求。
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仪器收费信息
| 序号 |
样品分类 |
分析项目 |
前处理标准名称 |
分析项目标准名称 |
对外服务价格 |
| 1 |
固体 |
纳米光学成像 |
用户指定 |
用户指定 |
250 |
