仪器名称 | 场发射透射电子显微镜 | 仪器型号 | Tecnai G2 F20 S-TWIN |
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所属单位 | 上海应用物理研究所 | 所属区域中心 | 上海材料与制造大型仪器区域中心 | ||
制造商名称 | FEI公司 | 国别 | 美国 | ||
购置时间 | 2010/03/23 | 放置地点 | 电子楼101室 | ||
预约审核人 | 刘仁多 | 操作人员 | 刘仁多 | ||
仪器工作状态 | 正常 | 预约形式 | 必须预约 | ||
预约类型 | 时间预约 | ||||
仪器大类 | 室内分析测试设备 | 仪器中类 | 显微镜及图象分析仪器 | 仪器小类 | 电子显微镜 |
仪器主要功能及描述 | |||||
备注 |
仪器收费信息
序号 | 样品分类 | 分析项目 | 前处理标准名称 | 分析项目标准名称 | 对外服务价格 |
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1 | 粉末 | 纳米颗粒大小形态和粒度的测定,结构分析及微区成分分析 | 用户指定 | 用户指定 | |
2 | 固体 | 材料的显微组织形貌、晶体结构的观察与分析,微区成分分析 | 用户指定 | 用户指定 |