| 仪器名称 | 半导体参数测量仪（高精度探针台） | 仪器型号 | 4200-SCS/F+SUSS PM8 |
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| 所属单位 | 苏州纳米技术研究所 | 所属区域中心 | 上海材料与制造大型仪器区域中心 | ||
| 制造商名称 | 美国吉时利仪器公司 | 国别 | 美国 | ||
| 购置时间 | 2007/07/05 | 放置地点 | E 206 | ||
| 预约审核人 | 周桃飞,郑树楠,王淼,徐科,田飞飞,张志强 | 操作人员 | 田飞飞,周桃飞,徐科,张志强,王淼,郑树楠,王海 | ||
| 仪器工作状态 | 正常 | 预约形式 | 必须预约 | ||
| 预约类型 | 时间预约 | ||||
| 仪器大类 | 工艺实验设备 | 仪器中类 | 物理量测试仪器 | 仪器小类 | 光电测量仪器 |
| 仪器主要功能及描述 | |||||
| 备注 | |||||
仪器收费信息
| 序号 | 样品分类 | 分析项目 | 前处理标准名称 | 分析项目标准名称 | 对外服务价格 |
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| 1 | 固体 | 半导体参数测量 | 用户指定 | 用户指定 | 330 |