场发射透射电子显微镜（（TEM）FEI Tecnai G2 F20 S-TWIN）
时间：2018-01-18 09:40:07来源：网络
| 仪器名称 |
场发射透射电子显微镜
|
仪器型号 |
（TEM）FEI Tecnai G2 F20 S-TWIN
|
|
| 所属单位 |
近代物理研究所
|
所属区域中心 |
兰州资源环境科学大型仪器区域中心
|
| 制造商名称 |
FEI
|
国别 |
美国
|
| 购置时间 |
2012/10/18
|
放置地点 |
治癌中心
|
| 预约审核人 |
徐丽君
|
操作人员 |
徐丽君
|
| 仪器工作状态 |
正常
|
预约形式 |
可不预约
|
| 预约类型 |
时间预约
|
|
|
| 仪器大类 |
室内分析测试设备
|
仪器中类 |
显微镜及图象分析仪器
|
仪器小类 |
电子显微镜
|
| 仪器主要功能及描述 |
用于材料的形貌观察和微区的晶体结构、成分分析。
|
| 备注 |
点分辨率≤0.24nm 线分辨率≤0.102nm信息分辨率≤0.14nm
加速电压：20kV-200kV；加速电压连续可调
放大倍数：最小25倍，最大≥ 1,000,000倍
|
仪器收费信息
| 序号 |
样品分类 |
分析项目 |
前处理标准名称 |
分析项目标准名称 |
对外服务价格 |
| 1 |
固态 液态 |
高分辨形貌观察 微区的晶体结构 成分分析 |
用户指定 |
用户指定 |
600 |
