冷场场发射扫描电子显微镜（JSM-6700F）
时间：2018-01-23 15:12:17来源：网络
| 仪器名称 |
冷场场发射扫描电子显微镜
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仪器型号 |
JSM-6700F
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| 所属单位 |
中国科学技术大学
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所属区域中心 |
合肥战略能源和物质科学大型仪器区域中心
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| 制造商名称 |
日本电子株式会社（JEOL）
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国别 |
日本
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| 购置时间 |
2001/10/08
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放置地点 |
理化中心130实验室
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| 预约审核人 |
付圣权
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操作人员 |
付圣权
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| 仪器工作状态 |
正常
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预约形式 |
必须预约
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| 预约类型 |
项目预约
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| 仪器大类 |
室内分析测试设备
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仪器中类 |
显微镜及图象分析仪器
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仪器小类 |
电子显微镜
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| 仪器主要功能及描述 |
本仪器具有高的分辨率，放大倍率几十倍到几十万倍连续可调，可观察物体二次电子
像、背散射电子像，同时可进行X射线能谱分析：
1. 固体物质表面形貌观察可广泛应用于生物、物理、化学、纳米材料、金属材料、高分子材料等方面的表面形貌观察、粒度测量、集成电路质量检验、断口分析、失效分析等。
2. 背散射电子像（BSE）背散射电子可显示出试样微区原子序数或化学成分的差异，即试样的成分衬度。根据背散射电子像的亮暗程度，可判别出相应区域的原子序数的相对大小，由此可对陶瓷、金属或合金等材料的显微结构进行分析。
主要技术指标
分辨率 1.0nm @ 15kV,能谱分辨率133eV(Mn Ka),分析元素B（5）-- U（92）
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| 备注 |
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仪器收费信息
| 序号 |
样品分类 |
分析项目 |
前处理标准名称 |
分析项目标准名称 |
对外服务价格 |
| 1 |
材料微结构分析 |
SEM表面形貌结构表征 |
用户指定 |
用户指定 |
100 |
| 2 |
材料微结构分析 |
SEM表面形貌结构表征 |
用户指定 |
用户指定 |
0 |
| 3 |
材料微结构分析 |
SEM表面形貌结构表征 |
用户指定 |
用户指定 |
0 |
| 4 |
材料微结构分析 |
SEM表面形貌结构表征 |
用户指定 |
用户指定 |
0 |
| 5 |
材料微结构分析 |
SEM表面形貌结构表征 |
用户指定 |
用户指定 |
0 |
