肖特基场发射扫描电子显微镜（SIRION200）
时间：2018-01-23 15:12:33来源：网络
| 仪器名称 |
肖特基场发射扫描电子显微镜
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仪器型号 |
SIRION200
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| 所属单位 |
中国科学技术大学
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所属区域中心 |
合肥战略能源和物质科学大型仪器区域中心
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| 制造商名称 |
美国FEI电子光学公司
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国别 |
美国
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| 购置时间 |
2005/07/18
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放置地点 |
理化中心128室
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| 预约审核人 |
付圣权
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操作人员 |
付圣权
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| 仪器工作状态 |
正常
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预约形式 |
必须预约
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| 预约类型 |
项目预约
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| 仪器大类 |
室内分析测试设备
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仪器中类 |
显微镜及图象分析仪器
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仪器小类 |
电子显微镜
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| 仪器主要功能及描述 |
本仪器具有电子枪亮度高、束流稳定，图像分辨率高、景深大等特点，放大倍率100~300000倍连续可调，可观察物体二次电子像、背散射电子像，同时可进行X射线能谱分析和阴极荧光光谱分析：
1．固体物质表面形貌观察
2．背散射电子像（BSE
3．X射线能谱(EDS）
4．阴极荧光光谱(CL)
主要技术指标
分辨率 1.2nm @ 15kV，1.5nm @ 10kV； 能谱分辨率133eV(Mn Ka)，分析元素B（5）-- U（92） 阴极荧光： 300 nm — 900 nm
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| 备注 |
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仪器收费信息
| 序号 |
样品分类 |
分析项目 |
前处理标准名称 |
分析项目标准名称 |
对外服务价格 |
| 1 |
材料微结构分析 |
SEM表面形貌结构表征 |
用户指定 |
用户指定 |
100 |
| 2 |
材料微结构分析 |
SEM表面形貌结构表征 |
用户指定 |
用户指定 |
0 |
| 3 |
材料微结构分析 |
SEM表面形貌结构表征 |
用户指定 |
用户指定 |
0 |
| 4 |
材料微结构分析 |
SEM表面形貌结构表征 |
用户指定 |
用户指定 |
0 |
| 5 |
材料微结构分析 |
CL阴极荧光显微成象及其光谱分析 |
用户指定 |
用户指定 |
0 |
| 6 |
材料微结构分析 |
CL阴极荧光显微成象及其光谱分析 |
用户指定 |
用户指定 |
0 |
| 7 |
材料微结构分析 |
SEM表面形貌结构表征 |
用户指定 |
用户指定 |
0 |
