仪器设备信息
- L2130i光腔衰荡光谱仪（Yao）（L2130i）
- 激光系统（激光系统）
- TEA CO2激光器（MTL-3）
- 多晶合成炉3（AG-2）
- 多晶合成炉6（AG-2）
- 600MHz 宽腔固体核磁共振波谱仪（AVANCE III）
- 单晶炉4（T型）
- 流式细胞仪（Accuri C6）
- 有机碳/元素碳分析仪2（DRI2001A）
- 元器件检测筛选-三端稳压器高温老化系统（SPSD-T）
- 泰曼-格林激光干涉仪（Phasecam4020system）
- 气相色谱仪-7890A（7890）
- 元器件检测筛选-电磁继电器低电平试验系统（BTRL-180）
- 元器件检测筛选-电源模块测试系统（JC-3191）
- 菲索激光干涉仪（Fizcam2000System）
- 元器件检测筛选-大功率晶体管老化系统（BTW-E361）
- 元器件检测筛选-分立器件综合老化系统（SPZH-G）
- 元器件检测筛选-小型环境试验箱（MC-811）
- 单晶炉5（T型）
- 元器件检测筛选-高温反偏试验系统（SPFP-T）
- 三维激光多普勒测速仪（物质区域中心） （FlowLite）
- 元器件检测筛选-功率器件测试系统（JC-3190）
- 元器件检测筛选-氦质谱检漏仪（ZQJ-230D）
- 光学传递函数测量仪（ImageMasterRUniversal）
- 连续式金属富勒烯制备设备（纳米区域中心）（非标）
- 多普勒粒度分析仪（物质区域中心）（Fiber PDA）
- 元器件检测筛选-电容器高温老化系统（BTC-E400）
- 元器件检测筛选-数模混合集成电路测试系统（JC-3165）
- 宏量制备高效液相色谱（纳米区域中心）（NEXT-800型+Buchyprep-M+非标辅助设备）
- 粒子成像测速系统（物质区域中心） （FlowMaster）
- 元器件检测筛选-集成电路高温动态老化系统（BTI-E3000AT/1）
- 元器件检测筛选-电源模块高温老化系统（BTS-E280）
- 标定测试-直流稳压电源检定系统[2001]（2001）
- 有机碳/元素碳分析仪1（DRI2001A）
- 元器件检测筛选-集成电路高温动态老化系统（BTI-E3000AT/2）
- 通用测试-激光波长频率检测仪（wsu-2）
- 微探针台(模块、PCB) （I）（SUMMIT 11000 B-S）
- 总有机碳分析仪（Torch）
- X射线检测仪（I）（GE Sensing Microme|x CT）
- 直流探针台（I）（PW-800）